Sistema de caracterització de l'analitzador de paràmetres 4200A-SCS Keithley Semiconductor
El sistema de caracterització de l'analitzador de paràmetres de semiconductors Keithley 4200A-SCS realitza la caracterització de dispositius de pols i DC de grau de laboratori, traçat en temps real i anàlisi amb alta precisió i resolució sub-fem a amplificador.
- Introducció al producte
Visió general i característiques
El sistema de caracterització de l'analitzador de paràmetres de semiconductors Keithley 4200A-SCS realitza la caracterització de dispositius de pols i DC de grau de laboratori, traçat en temps real i anàlisi amb alta precisió i resolució sub-fem a amplificador. El Keithley 4200A-SCS ofereix mesures de sincronització de corrent-tensió (IV), capacitat-tensió (CV) i mesures IV polsades ultra ràpides.
L'analitzador de paràmetres Keithley 4200A-SCS redueix la complexitat de la caracterització i la configuració de les proves fins a un 50 per cent, proporcionant una capacitat de mesura i anàlisi clara i sense compromisos. A més, l'experiència en mesurament integrada, una novetat en el sector, ofereix una guia de prova i us ofereix una confiança suprema en els vostres resultats.
Els aspectes més destacats de l'analitzador de paràmetres de semiconductors Keithley 4200A-SCS inclouen:
● VÍDEOS de mesurament integrat en anglès, xinès, japonès i coreà
● Inicieu les proves amb més de 450 proves d'aplicacions modificables per l'usuari
● Extracció automatitzada de paràmetres en temps real, gràfics de dades, funcions aritmètiques
● El commutador múltiple 4200A-CVIV canvia automàticament entre les mesures IV i CV sense tornar a cablejar ni aixecar les puntes del sondeig. A diferència dels productes de la competència, la pantalla 4200A-CVIV de quatre canals proporciona una visió visual local per a una configuració ràpida de la prova i una solució de problemes fàcil quan es produeixen resultats inesperats.
o Moveu la mesura CV a qualsevol terminal del dispositiu sense tornar a cablejar
o Configurable per l'usuari per a una capacitat de corrent baixa
o Personalitzar els noms dels canals de sortida
o Veure l'estat de la prova en temps real
Les característiques del sistema Keithley 4200A-SCS inclouen:
● Interfície de pantalla tàctil intuïtiva amb l'ordinador incrustat Clarius SWon Win7.
● Els preamplificadors remots opcionals exclusius amplien la resolució de les SMU a 10 aA
● L'instrument CV fa que les mesures CV siguin tan fàcils com DC IV
● Capacitats de pols i pols IV per a proves avançades de semiconductors
● La targeta d'abast proporciona funcionalitat integrada d'osci i mesura de pols
● L'ordinador autònom proporciona una configuració ràpida de les proves, una potent anàlisi de dades, gràfics i impressió i emmagatzematge massiu integrat dels resultats de les proves.
● Equipat amb experiència en mesurament integrada i centenars de proves d'aplicacions llestes per utilitzar.
● Anàlisi integrada de tensió/mesura, bucle i anàlisi de dades per a proves de fiabilitat d'apuntar i fer clic, incloses cinc proves de mostres compatibles amb JEDEC
● Suport integrat per a diversos mesuradors LCR, configuracions de matriu d'interruptors Keithley i generadors de polsos Keithley Series 3400 i Agilent 81110.
● Inclou controladors de programari per als principals sondadors analítics
Les especificacions del 4200A-SCS inclouen:
● Interval de corrent-tensió (IV):
o 0.1 fA – 1 A
o 0.2 µV – 210 V
● Interval de capacitat-tensió (CV): 1 kHz – 10 MHz ± 30 V de polarització de CC
● Interval IV polsat: ±40 V (80 V pp), ±800 mA 200 MSa/seg, velocitat de mostreig de 5 ns
Etiquetes populars: Sistema de caracterització de l'analitzador de paràmetres de semiconductors 4200a-scs Keithley, fabricants de sistemes de caracterització de l'analitzador de paràmetres de semiconductors 4200a-scs de la Xina
